辰顯光電牽頭制定，全球首個(gè)Micro-LED陣列國際標準立項

　　近日，成都辰顯光電有限公司在國際電工委員會(huì )(IEC)牽頭制定的國際標準提案《半導體器件 第5-17部分：光電子器件 發(fā)光二極管 微型發(fā)光二極管陣列器件光電參數測試方法》通過(guò)了新工作項目提案(NP)投票。NP投票是國際標準從提案建議階段進(jìn)入正式起草階段的重要節點(diǎn)，通常由國家成員體提出申請，國際標準化組織按照“一國一票”的原則組織各成員國進(jìn)行投票表決。

　　這是Micro-LED領(lǐng)域首個(gè)申請并成功立項的國際標準，也是Micro-LED方向我國主導的第一個(gè)國際標準，具有里程碑的意義。

　　產(chǎn)業(yè)發(fā)展，標準先行

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　　該項國際標準明確了Micro-LED陣列光電參數的標準化測量條件和測量方法，將解決長(cháng)期以來(lái)Micro-LED光電參數測試方法不統一的行業(yè)痛點(diǎn)。 該標準將為Micro-LED顯示器件的生產(chǎn)制造、檢驗檢測及國際貿易交流提供統一的技術(shù)依據，對于確保Micro-LED產(chǎn)品的品質(zhì)與性能一致性具有關(guān)鍵支撐作用。

　　近年來(lái)，Micro-LED因其高亮度、低功耗、自發(fā)光等優(yōu)勢受到廣泛關(guān)注，有望成為新一代主流顯示技術(shù)。在Micro-LED制程中，混bin(參數分選)工藝對品質(zhì)管控至關(guān)重要，其本質(zhì)是通過(guò)光電參數測試，對不同波長(cháng)、亮度的LED精準分級以匹配應用需求。這是實(shí)現Micro-LED光學(xué)參數一致性調控的關(guān)鍵環(huán)節，將直接影響顯示的均一性與良率提升。而隨著(zhù)Micro-LED芯片的微縮化，傳統的測試方案難以滿(mǎn)足需求。

　　面對這一行業(yè)挑戰，辰顯光電通過(guò)創(chuàng )新性地采用選擇性巨量轉移技術(shù)制備電驅動(dòng)的Micro-LED測試陣列 ，實(shí)現了快速、批量測試Micro-LED的亮度長(cháng)/短程均勻性、色度均勻性等關(guān)鍵光電參數。這相當于建立了一個(gè)高效且精確的“數據庫”，極大地便利了混bin工序對不同特性L(fǎng)ED的精準分類(lèi)與匹配，從而有效解決了Micro-LED光學(xué)均一性不足等問(wèn)題，為生產(chǎn)高性能Micro-LED顯示屏奠定了標準基礎。

　　產(chǎn)業(yè)發(fā)展，標準先行。 近年來(lái)，中、日、韓紛紛開(kāi)啟Micro-LED產(chǎn)業(yè)和標準布局，搶占國際標準話(huà)語(yǔ)權勢在必行。此外，工業(yè)和信息化部等印發(fā)的《電子信息制造業(yè)2023-2024年穩增長(cháng)行動(dòng)方案》中明確指出推動(dòng)微發(fā)光二極管顯示器件(Micro-LED)等擴大應用。國家標準化管理委員會(huì )等四部門(mén)印發(fā)的《新產(chǎn)業(yè)標準化領(lǐng)航工程實(shí)施方案(2023—2035年)》中也明確提出，全面推進(jìn)新興產(chǎn)業(yè)標準體系建設，在未來(lái)顯示中強調研制Micro-LED顯示等關(guān)鍵技術(shù)標準。

　　除辰顯光電外，中國電子技術(shù)標準化研究院等研究機構和多家產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)共同參與了標準制定。 此項國際標準將推動(dòng)Micro-LED顯示技術(shù)的標準化、規范化進(jìn)程，提升我國在半導體顯示器件領(lǐng)域的話(huà)語(yǔ)權和國際影響力。